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图片 | 名称/价格/厂家 | 参数 | 详细资料 |
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名称:上海仪电分析N4S紫外可见分光光度计(新品) 市场价格: 优惠价格: |
型号:N4S 是否有现货: |
仪器特点: 1. 计量II级仪器 2. 先进的ARM处理核心 3. 自动波长 4. 5.6英吋彩色触摸屏 5. 优异的定性、定量测试功能 6. 快速初始化进入测定状态功能 7. 钨灯氘灯寿... 详细 | |
名称:上海仪电分析N4紫外可见分光光度计(新品)含打印机 市场价格: 优惠价格: |
型号:N4 是否有现货: |
仪器特点: 1. 计量II级仪器 2. 先进的ARM处理核心 3. 自动波长 4. 5.6英吋彩色触摸屏 5. 优异的定性、定量测试功能 6. 快速初始化进入测定状态功能 7. 钨灯氘灯寿... 详细 | |
名称:上海仪电分析N4紫外可见分光光度计(新品) 市场价格: 优惠价格: |
型号:N4 是否有现货: |
仪器特点: 1.计量II级仪器 2.先进的ARM处理核心 3.自动波长 4.5.6英吋彩色触摸屏 5.优异的定性、定量测试功能 6.快速初始化进入测定状态功能 7.钨灯氘灯寿命保护功能 仪器功能: 1. 具有全波段扫描、分波段扫描、动力学时间扫描、自动波长、线性回归、浓度直读、峰谷... 详细 | |
名称:上海仪电分析UV755B紫外可见分光光度计 市场价格: 优惠价格: |
型号:UV755B 是否有现货: |
特点: 1. 采用微机系统。 2. 具有记忆储存功能。 3. 提供断电保护。 4. 数据一次输入,永久使用。 5. 备有标准打印机接口通讯口。 主要技术指标: 1. 波长范围;200nm~1000nm 2. 波长最大允许误差:±1nm 3. 波长重复性:≤0.5nm 4. 透射比... 详细 | |
名称:上海仪电分析UV752N紫外可见分光光度计 市场价格: 优惠价格: |
型号:UV752N 是否有现货: |
特点: 1. 采用先进的全息闪耀光栅单色器,具有波长精度高,单色性好,杂散光低等优点。 2. 超大屏幕带背光液晶显示器,测量数据一目瞭览。 3. 采用微机测量系统,T-A转换精度高,并有自动调0%T和调100%T,浓度因子设定、浓度直读。 4. 测量读数准确性高,重现性好和稳定性佳。 5.... 详细 | |
名称:上海仪电分析UV754N紫外可见分光光度计 市场价格: 优惠价格: |
型号:UV754N 是否有现货: |
特点: 1. 采用先进的全息闪耀光栅单色器,具有波长精度高,单色性好,杂散光低等优点。 2. 一键实现自动调零和调满度功能。 3. 严密的工艺及元件选择,保证仪器测量系统的低漂移和低噪声,使仪器具有超群的测量读数重现性和稳定性。 4. 大屏幕字符型液晶显示器。 5. 数据打印和时间打印。 ... 详细 | |
名称:上海仪电分析UV759S紫外可见分光光度计 市场价格: 优惠价格: |
型号:UV759S 是否有现货: |
主要特点: 1. 采用先进的光、机、电、微计算机模快化设计,具有超群的性能和性价比。 2. 采用比例双光束光路结构,并配置高性能“闪耀全息光栅”的低杂散光高分辨率的单色器, 具有出众的光学精度以及测量准确性、重现性和稳定性。 3. 采用强大的微处理功能、全自动的系统操作,测试控制及数据处理,具... 详细 | |
名称:上海仪电分析UV765PC紫外可见分光光度计 市场价格: 优惠价格: |
型号:UV765PC 是否有现货: |
主要特点: 1. 比例双光束,保证极好的稳定性。 2. 超低的杂散光,优异的波长精确度。 3. 高清晰度大屏幕LCD显示,流畅的人机对话操作。 4. 长寿命石英涂膜光学部件。 5. 常规测量功能:光度测量、定量测定、光谱扫描、时间扫描。 6. 显示和储存各种数据和图谱,支持专用打印机。 ... 详细 | |
名称:上海仪电分析UV765紫外可见分光光度计 市场价格: 优惠价格: |
型号:UV765 是否有现货: |
主要特点: 1. 比例双光束,保证极好的稳定性。 2. 超低的杂散光,优异的波长精确度。 3. 高清晰度大屏幕LCD显示,流畅的人机对话操作。 4. 长寿命石英涂膜光学部件。 5. 常规测量功能:光度测量、定量测定、光谱扫描、时间扫描。 6. 显示和储存各种数据和图谱,支持专用打印机。 ... 详细 | |
名称:上海仪电分析UV757CRT/PC紫外可见分光光度计 市场价格: 优惠价格: |
型号:UV757CRT/PC 是否有现货: |
主机功能: 采用微机测量系统,T-A转换精确,自动调整0%(T)和调整100%(T),具有GOTOλ,自动8联样品架,自动扣除比色皿误差,浓度多点标定,斜率和截距设置等功能,具有RS232接口和并行打印口(打印机专用,另行选配)。 联机功能: 通过RS232串行接口,可利用上层软件作全波长扫描... 详细 |